氧化诱导测试仪测量的是与材料内部热转变相关的温度、热流的关系,应用范围非常广,特别是材料的研发、性能检测与质量控制。采用差热分析法或差示扫描量热法可以简单快速测量电缆绝缘和护套材料的氧化诱导期,因此应用十分普遍。材料的特性:如玻璃化转变温度。冷结晶、相转变、熔融、结晶、热稳定性、固化/交联、氧化诱导期等,都是DSC的研发领域。
氧化诱导期(OIT)是测定试样在高温(200摄氏度)氧气条件下开始发生自动催化氧化反应的时间,是评价材料在成型加工、储存、焊接和使用中耐热降解能力的指标。氧化诱导期(简称OIT)方法是一种采用差热分析法(DTA)以塑料分子链断裂时的放热反应为依据,测试塑料在高温氧气中加速老化程度的方法。其原理是:将塑料试样与惰性参比物(如氧化铝)置于差热分析仪中,使其在一定温度下用氧气迅速置换试样室内的惰性气体(如氮气)。测试由于试样氧化而引起的DTA曲线(差热谱)的变化,并获得氧化诱导期(时间)OIT(min),以评定塑料的防热老化性能。
氧化诱导测试仪的主要特点:
1、全新的炉体结构,更好的解析度和分辨率以及更好的基线稳定性;
2、数字式气体质量流量计,控制吹扫气体流量,数据直接记录在数据库中;
3、仪器可采用双向控制(主机控制、软件控制),界面友好,操作简便;
4、内嵌工控电脑,无需连接电脑,一键式操作测试氧化诱导期,自动生成氧化诱导期图谱,自动打印测试结果。自动氧化诱导期操作结束后仪器蜂鸣提示,过程无需人员看管,简单。
5、符合国标GB/T2951.42-2008、GB/T15065-2009、GB/T17391-1998、GB/T19466-2009,IEC60811-4-2:2004、GB/T19466.6-2009。
应用实例:
测量与热量有关的物理、化学变化,如玻璃化转变温度、熔点。熔融温度、结晶与结晶热、相转变反应热,产品的热稳定性、固化/交联、氧化诱导期、反应动力学、比热等。